gem. Art. 21, Abs. 2, Bst. c BöB Das hier eingekaufte Detektorsystem verfügt als einziges über so hohe Bildgebungsraten bei gleichzeitig vergleichsweise attraktiven kommerziellen Bedingungen. Die für die Anwendung auf unserem bestehenden Elektronenmikroskop TEM JEOL GrandArm notwendigen Kriterien erfüllt dieses System vollständig. Die deutlich höhere Beständigkeit des Dectris-Detektors gegenüber hohen Elektronenstrahldosen ist ein entscheidender Vorteil: Der direkte (nicht gestreute) Strahl kann ohne Beschädigung auf den Detektor gerichtet werden, was besonders für In-situ-Experimente wichtig ist, bei denen der zentrale Strahl den Detektor über einen längeren Zeitraum kontinuierlich bestrahlen kann.
- Fourniture
Détecteur 4D-STEM ultra-rapide pour le microscope électronique existant chez ScopeM
- Lieu
- Canton ZH
- Service d'achat
- ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
- Service demandeur
- ETH Zürich - ScopeM
Adjugé de gré à gré
Adjugé à
- DECTRIS AG, Dättwil AGCHF 427’049.05
Qu'est-ce qui est acquis ?
Étendue des prestations
Détecteur STEM 4D ultra-rapide pour un microscope électronique existant chez ScopeM à l'ETH Zurich
Données clés, codes et options
Données clés, codes et options
- Type de marché
- Fourniture
- Type de fourniture
- Achat
- Corps de métier
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
- CPV
- CPV 38000000 – Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)
- Options
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
- Variantes
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
- Offres partielles
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
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Source officielle
- Numéro de projet simap
- 38007
- Numéro de publication
- 38007-01
- Soumis aux accords internationaux
- Oui
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