Adjugé
- Fourniture
Niedrigtemperatur-Rastersondenmikroskop für die In-operando-Nanoskopie von Bauelementen
- Lieu
- Canton ZH
- Service d'achat
- Empa zentraler Einkauf
Adjugé
Adjugé à
- CreaTec Fischer & Co. GmbH, Erligheim/DE, ErligheimEUR 808’590.00
Qu'est-ce qui est acquis ?
Étendue des prestations
The subject of this tender is a low-temperature (<3K), ultrahigh vacuum (UHV) scanning probe microscopy system with optical access to the scanned sample to pinpoint device structures in the sub-micrometer range to be investigated on the atomic level. The system provides state-of-the-art scanning tunneling microscopy (STM), spectroscopy (STS) and tuning fork based noncontact atomic force microscopy (nc-AFM), including UHV preparation chamber and load lock.
Données clés, codes et options
Données clés, codes et options
- Type de marché
- Fourniture
- Type de fourniture
- Achat
- Procédure
- Procédure ouverte
- Corps de métier
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
- CPV
- CPV 38514200 – Microscopes à sonde à balayage
- Options
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
- Variantes
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
- Offres partielles
- Ne ressort pas des données de publication disponibles.
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Source officielle
Vers l'appel d'offres officiel(simap.ch, s'ouvre dans un nouvel onglet)
- Numéro de projet simap
- 25395
- Numéro de publication
- 25395-02
- Soumis aux accords internationaux
- Oui
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