Die Zuschlagsempfängerin hat das vorteilhafteste Angebot eingegeben und die höchste Gesamtpunktzahl erreicht und ist somit die Gewinnerin dieser Ausschreibung.
- Fornitura
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien
- Luogo
- Cantone ZH
- Servizio d'acquisto
- ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
- Servizio richiedente
- ETH Zürich - Dept. Bau, Umwelt und Geomatik
Aggiudicato
Aggiudicato a
- Portmann Instruments AG, Biel-Benken BLCHF 430’778.50
Che cosa si acquista?
Portata delle prestazioni
Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse.
Details siehe Pflichtenheft.
Dati principali, codici e opzioni
Dati principali, codici e opzioni
- Tipo di commessa
- Fornitura
- Tipo di fornitura
- Acquisto
- Procedura
- Procedura aperta
- Generi di lavoro
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- CPV
- CPV 38511000 – Microscopi elettronici
- Opzioni
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- Varianti
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- Offerte parziali
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
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Fonte ufficiale
- Numero di progetto simap
- 10213
- Numero di pubblicazione
- 10213-02
- Sottoposto ai trattati internazionali
- Sì
Approfondimenti nella guida
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