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Bando, estratto

Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Committente
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
Luogo
Cantone ZH
Termine d'inoltro
Nessun termine indicato
Pubblicato
19.07.2025
Procedura
Procedura aperta
Tipo
Fornitura
Numero di progetto
10213
CPV
38511000 Microscopi elettronici

Descrizione

Lingua originale: tedesco

Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse.

Details siehe Pflichtenheft.

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