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Appel d'offres, extrait

Plaquettes de test et plaquettes polies double face en silicium pour le Centre de MicroNanotechnologie

Adjudicateur
EPFL-Scientific Equipment
Lieu
Canton VD
Délai de remise
Aucun délai indiqué
Publié
30.07.2026
Procédure
Procédure ouverte
Type
Fourniture
Numéro de projet
29185
CPV
38000000 Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)

Description

Single side polished Silicon test wafer

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