Un microscope électronique à transmission à balayage (STEM) à haute résolution équipé d’un correcteur Cs

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à transmission à balayage (STEM) à haute résolution équipé d’un correcteur Cs « sonde », qui sera intégré à la plateforme de microscopie électronique de l'EPFL, CIME.

En plus des opérations TEM conventionnelles courantes, telles que l'imagerie BF/DF et la diffraction sur zone sélectionnée, le nouveau microscope servira à étudier la nanostructure et la composition chimique d'échantillons à une résolution atomique dans le domaine de la science des matériaux, de la physique et de la chimie. Il sera également utilisé par des utilisateurs novices en microscopie qui ont besoin d'un microscopie corrigée en Cs. Son fonctionnement et son alignement doivent être intuitifs et ne pas nécessiter une longue expérience en microscopie électronique à transmission.

Le microscope devrait permettre de changer de mode et de haute tension et fonctionner dans le respect de toutes les spécifications dans un délai raisonnable. En règle générale, le changement de HT doit être possible en une seule session (une demi-journée).

La résolution STEM à différentes haute tensions, l'imagerie à faible dose, les performances EDX et la facilité d'utilisation seront des critères importants.