Un microscope électronique à balayage en série

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à balayage en série conçu pour l'imagerie à haute résolution de coupes minces en série et la microscopie électronique à balayage en série (SBF-SEM). Le système doit inclure un ultramicrotome facilement démontable pour l'automatisation des coupes et de l'imagerie en série. Ce microscope sera utilisé par des groupes de recherche principalement dans le domaine des sciences de la vie et sera installé au Centre de microscopie électronique (CIME) de l'EPFL.

Exigences minimales :

MEB à haute résolution avec imagerie par électrons secondaires et rétrodiffusés

Mode d'imagerie à faible vide

ultramicrotome intégré in situ pour la coupe et l'imagerie automatisées de blocs de surface

Imagerie sérielle automatisée et acquisition de données pour la reconstruction 3D

Techniques avancées d'atténuation des charges pour minimiser les distorsions d'image des échantillons susceptibles d'être chargés

Logiciel convivial pour l'alignement, le traitement et l'analyse des images.