Appel d'offres, extrait
Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF
- Adjudicateur
- EPFL-Scientific Equipment
- Lieu
- Canton VD
- Délai de remise
- Aucun délai indiqué
- Publié
- 24.06.2026
- Procédure
- Procédure ouverte
- Type
- Fourniture
- Numéro de projet
- 21384
- CPV
- 38000000 Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)
Description
Les extenseurs à faible puissance couvrant la gamme de 220 à 330 GHz (et au-delà) seront connectés à un système Keysight PNA (voir cahier des charges).
Liens
- Cet appel d'offres dans TEXFY: https://www.texfy.ch/fr/ausschreibungen/2c9ca67b-c217-436c-ae7f-f3b660db948b
- Publication officielle: https://www.simap.ch/fr/project-detail/a6beb1c8-e3c1-4aa5-973f-9cda0ca6c288