gem. Art. 21, Abs. 2, Bst. c BöB Das hier eingekaufte Detektorsystem verfügt als einziges über so hohe Bildgebungsraten bei gleichzeitig vergleichsweise attraktiven kommerziellen Bedingungen. Die für die Anwendung auf unserem bestehenden Elektronenmikroskop TEM JEOL GrandArm notwendigen Kriterien erfüllt dieses System vollständig. Die deutlich höhere Beständigkeit des Dectris-Detektors gegenüber hohen Elektronenstrahldosen ist ein entscheidender Vorteil: Der direkte (nicht gestreute) Strahl kann ohne Beschädigung auf den Detektor gerichtet werden, was besonders für In-situ-Experimente wichtig ist, bei denen der zentrale Strahl den Detektor über einen längeren Zeitraum kontinuierlich bestrahlen kann.
- Fornitura
Ultraschneller 4D-STEM Detektor für bestehendes Elektronenmikroskop bei ScopeM
- Luogo
- Cantone ZH
- Servizio d'acquisto
- ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
- Servizio richiedente
- ETH Zürich - ScopeM
Aggiudicato per incarico diretto
Aggiudicato a
- DECTRIS AG, Dättwil AGCHF 427’049.05
Che cosa si acquista?
Portata delle prestazioni
Ultraschneller 4D-STEM Detektor für bestehendes Elektronenmikroskop bei ScopeM an der ETH Zürich
Dati principali, codici e opzioni
Dati principali, codici e opzioni
- Tipo di commessa
- Fornitura
- Tipo di fornitura
- Acquisto
- Generi di lavoro
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- CPV
- CPV 38000000 – Attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri)
- Opzioni
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- Varianti
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- Offerte parziali
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
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Fonte ufficiale
- Numero di progetto simap
- 38007
- Numero di pubblicazione
- 38007-01
- Sottoposto ai trattati internazionali
- Sì
Approfondimenti nella guida
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