Aggiudicato
- Fornitura
Niedrigtemperatur-Rastersondenmikroskop für die In-operando-Nanoskopie von Bauelementen
- Luogo
- Cantone ZH
- Servizio d'acquisto
- Empa zentraler Einkauf
Aggiudicato
Aggiudicato a
- CreaTec Fischer & Co. GmbH, Erligheim/DE, ErligheimEUR 808’590.00
Che cosa si acquista?
Portata delle prestazioni
The subject of this tender is a low-temperature (<3K), ultrahigh vacuum (UHV) scanning probe microscopy system with optical access to the scanned sample to pinpoint device structures in the sub-micrometer range to be investigated on the atomic level. The system provides state-of-the-art scanning tunneling microscopy (STM), spectroscopy (STS) and tuning fork based noncontact atomic force microscopy (nc-AFM), including UHV preparation chamber and load lock.
Dati principali, codici e opzioni
Dati principali, codici e opzioni
- Tipo di commessa
- Fornitura
- Tipo di fornitura
- Acquisto
- Procedura
- Procedura aperta
- Generi di lavoro
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- CPV
- CPV 38514200 – Microscopi a sonda di scansione
- Opzioni
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- Varianti
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
- Offerte parziali
- Non risulta dai dati di pubblicazione disponibili.
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Fonte ufficiale
Al bando ufficiale(simap.ch, si apre in una nuova scheda)
- Numero di progetto simap
- 25395
- Numero di pubblicazione
- 25395-02
- Sottoposto ai trattati internazionali
- Sì
Approfondimenti nella guida
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