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Rasterelektronenmikroskop (SEM) für FIRST Hönggerberg

Beschaffungsstelle
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
Bedarfsstelle
ETH Zürich, FIRST - Center for Micro- and Nanoscience
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Freihändig vergeben

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  • Zuschlag vom 08.07.2025Freihändig

    • Gloor Instruments AG, KlotenCHF 418’545.00 inkl. MWST
Zuschläge dieses Auftraggebers

Begründung

gem. Art. 21, Abs. 2, Bst. e BöB Das FIRST-Lab der ETH Zürich hat zwei fast baugleiche ZEISS Gemini-Systeme (Ultra 55 und Ultra Plus) im Einsatz für die Prozessüberwachung mittels Raster-Elektronenmikroskopie direkt durch die Nutzer selber. Eines der Geräte ist bereits am Ende seiner Lebenszeit angelangt und muss ersetzt werden. Beide Geräte werden stark genutzt und sind pro Jahr über 2'100 Stunden im Einsatz von über 110 unterschiedlichen Nutzern (Daten vom letzten Jahr 2024). Die Nutzer sind damit sehr zufrieden und kennen die Bedieneroberfläche und können damit selbstständig und ohne Schulung arbeiten. Das neu zu beschaffende SEM verfügt über die gleiche Bedieneroberfläche und kann somit ohne Schulung direkt eingesetzt werden. Der interne Aufwand für Nutzer und Betreiber kann somit um mehrere Hundert Stunden reduziert werden was für die ETH Zürich ein grosser Vorteil ist.

Was wird beschafft?

Leistungsumfang

Sprache der Publikation

Ein Raster-Elektronenmikroskop (SEM) des Typs ZEISS GeminiSEM360 mit Zubehör und Benutzeroberfläche SmartSEM

Eckdaten, Codes und Optionen

Auftragsart
Lieferung
Lieferart
Kauf
Gewerke
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CPV
  • CPV 38000000 – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (ausser Gläser)
Optionen
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Varianten
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Teilangebote
Nicht aus den verfügbaren Publikationsdaten ersichtlich.

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Offizielle Quelle

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Projektnummer simap
20334
Publikationsnummer
20334-01
WTO-Regeln gelten (Staatsvertragsbereich)
Ja

Mit simap abgeglichen: 10.11.2026, 18:02

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