Die Zuschlagsempfängerin hat das vorteilhafteste Angebot eingegeben und die höchste Gesamtpunktzahl erreicht und ist somit die Gewinnerin dieser Ausschreibung.
Vergeben
- Lieferung
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien
- Ort
- Kanton ZH
- Beschaffungsstelle
- ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
- Bedarfsstelle
- ETH Zürich - Dept. Bau, Umwelt und Geomatik
Vergeben
Vergeben an
- Portmann Instruments AG, Biel-Benken BLCHF 430’778.50
Was wird beschafft?
Leistungsumfang
Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse.
Details siehe Pflichtenheft.
Eckdaten, Codes und Optionen
Eckdaten, Codes und Optionen
- Auftragsart
- Lieferung
- Lieferart
- Kauf
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Gewerke
- Nicht aus den verfügbaren Publikationsdaten ersichtlich.
- CPV
- CPV 38511000 – Elektronenmikroskope
- Optionen
- Nicht aus den verfügbaren Publikationsdaten ersichtlich.
- Varianten
- Nicht aus den verfügbaren Publikationsdaten ersichtlich.
- Teilangebote
- Nicht aus den verfügbaren Publikationsdaten ersichtlich.
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Offizielle Quelle
Zur offiziellen Ausschreibung(simap.ch, öffnet in neuem Tab)
- Projektnummer simap
- 10213
- Publikationsnummer
- 10213-02
- WTO-Regeln gelten (Staatsvertragsbereich)
- Ja
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