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Ausschreibung, Auszug

Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Auftraggeber
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
Ort
Kanton ZH
Eingabefrist
Keine Frist angegeben
Publiziert
19.07.2025
Verfahren
Offenes Verfahren
Art
Lieferung
Projektnummer
10213
CPV
38511000 Elektronenmikroskope

Beschreibung

Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse.

Details siehe Pflichtenheft.

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