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Niedrigtemperatur-Rastersondenmikroskop für die In-operando-Nanoskopie von Bauelementen

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  • Zuschlag vom 25.03.20262 Angebote

    • CreaTec Fischer & Co. GmbH, Erligheim/DE, ErligheimEUR 808’590.00 inkl. MWST
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Leistungsumfang

The subject of this tender is a low-temperature (<3K), ultrahigh vacuum (UHV) scanning probe microscopy system with optical access to the scanned sample to pinpoint device structures in the sub-micrometer range to be investigated on the atomic level. The system provides state-of-the-art scanning tunneling microscopy (STM), spectroscopy (STS) and tuning fork based noncontact atomic force microscopy (nc-AFM), including UHV preparation chamber and load lock.

Eckdaten, Codes und Optionen

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Verfahren
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CPV
  • CPV 38514200 – Rastersondenmikroskope
Optionen
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Offizielle Quelle

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Projektnummer simap
25395
Publikationsnummer
25395-02
WTO-Regeln gelten (Staatsvertragsbereich)
Ja

Mit simap abgeglichen: 10.11.2026, 18:02

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