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Ausschreibung, Auszug

UHV cluster for Pulsed Laser Deposition and Sputtering of epitaxial quantum materials (PLD-SP-CL)

Auftraggeber
Universität Zürich Assetmanagement
Ort
Kanton ZH
Eingabefrist
Keine Frist angegeben
Publiziert
16.04.2025
Verfahren
Offenes Verfahren
Art
Lieferung
Projektnummer
7983
CPV
38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (ausser Gläser)

Beschreibung

Das Physik-Institut plant die Beschaffung eines UHV-Clusters für gepulste Laserabscheidung und Sputtern (PLD-SP-CL) von epitaktischen Heterostrukturen mit Monolagen-Präzision. Das System wird die Materialsynthese auf Oxid-Substraten mit einer Fläche von bis zu 10 x 10 mm² ermöglichen. Die PLD- und Sputterkammern müssen Basisdrücke < 10⁻⁷ mbar aufweisen und über eine Schleusenkammer für einen schnellen Probenaustausch zugänglich sein. Die PLD- und Sputterkammern müssen für den Probentransfer im Vakuum miteinander verbunden sein. Die PLD muss über in-situ RHEED zur Wachstumsüberwachung verfügen und Substrat-Temperaturen von mindestens 950°C ermöglichen. Die Sputteranlage ermöglicht das DC-Magnetron-Sputtern bei einer Substrattemperatur von bis zu 700°C. Das System muss mit der Verwendung von flag-style-type- Probenträgern und dem Transfer zu einem extern bereitgestellten Vakuumkoffer für den Transport zu anderen Ex-situ-Charakterisierungsgeräten kompatibel sein.

The Physics Institute plans the procurement of a UHV cluster for pulsed laser deposition and sputtering (PLD-SP-CL) of epitaxial heterostructures with monolayer precision. The system will enable materials synthesis on oxide substrates up to 10 x 10 mm² in area. The PLD and sputter chambers must have base pressures < 10⁻⁷ mbar, and must be accessible through a loadlock chamber for rapid sample exchange. The PLD and sputter deposition chambers must be interconnected for in-vacuum sample transfer. The PLD must have in-situ RHEED for growth monitoring and allow substrate temperatures up to at least 950°C. The sputter will allow for DC magnetron sputtering at substrate temperature up to 700°C. The system must be compatible with the use of flag-style-type sample carrier plates and transfer to an externally provided vacuum suitcase for transport to other ex-situ characterization tools.

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