Scanning Laser Doppler Vibrometer system for experimental measurement and analysis of mechanical vibrations and waves

In der vorliegenden Submission schreibt das Institut für Mechanische Systeme (IMES) der ZHAW School of Engineering (ZHAW) ein Scanning Laser Doppler Vibrometer-System (SLDV) als Lieferauftrag aus. Eine detaillierte Leistungsbeschreibung ist im beiliegenden Pflichtenheft und Fragenkatalog enthalten. Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines Scanning Laser Doppler Vibrometer-Systems für die angewandte Forschung & Entwicklung und Lehre im Bereich der Strukturdynamik.

Das System soll der messtechnischen Erfassung von Schwingungen und Wellen mechanischer Strukturen dienen. Insbesondere wird es zur experimentellen Modalanalyse, zur experimentellen Betriebsschwingungsanalyse und zur Messung der zeitlichen Ausbreitung von Wellen eingesetzt werden.

Im Zentrum der Anwendungen steht die Charakterisierung von dynamischen Strukturen und Prozessen. Das Scanning Laser Doppler Vibrometer muss mit einem Infrarot-Messlaser (Wellenlänge 1550 nm) ausgerüstet sein, um technische Oberflächen ohne zusätzliche Behandlung oder der Verwendung von Reflexionsfolien schnell und rauscharm vermessen zu können. Die Abmasse der Messobjekte reichen von Meter bis Millimeter mit Schwingungsfrequenzen von Hertz bis in den tiefen Megahertz-Bereich.

Zum einen soll das System und die Software für Standardmessungen einfach in der Handhabung und Bedienung sein. Zum anderen soll das Messsystem auch über eine Programmierschnittstelle (API) Verfügungen, um Messaufgaben zu automatisieren oder das Gerät in eine experimentelle Umgebung zu integrieren.

Bei der Beschaffung wird Wert daraufgelegt, dass die Hardware über eine lange Lebensdauer verfügt und die künftige Aktualisierung der Soft- und Firmware gewährleistet bleibt.

Optional sind folgende Positionen zu offerieren:

1. Automatisierter Modalhammer zur Modalanalyse mit Impulsanregung

2. Close-up Unit zur Messung kleiner Bauteile bei kurzem Arbeitsabstand

3. Lebenslange Soft- und Firmwareupdates zur Fehlerbehebung und Erweiterung der Funktionalität

4. Ein- und Ausgänge zusätzlich zum Basissystem

5. Integrierte Geometrie-Einheit zur Distanzmessung und Vermessung der Probengeometrie

6. Zusätzliches integriertes Interferometer mit optischem Referenzkanal zum Anschluss eines Faserkopfs